数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质与流程-j9九游会真人

1.本发明涉及数控机床领域，具体涉及一种数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质。


背景技术：

2.目前，在数控机床加工过程中，需要对已加工结构的尺寸进行测量，以保证已加工结构的品质。现有技术中，数控机床大多通过探头进行测量尺寸，但是由于探头的直径较大，使得探头难以测量尺寸较小的台阶面的尺寸，需要将已加工结构从数控机床卸下，送入其他结构检测。若尺寸偏差过大，又需将已加工结构返回数控机床上返修加工，导致延长加工周期。


技术实现要素：

3.本发明的主要目的是提供一种数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质，以解决传统探头量测难以测量尺寸较小的台阶面的尺寸导致延长加工周期的问题。
4.为实现上述目的，本发明提出的数控机床量测方法包括以下步骤：
5.将一夹头与数控机床连接，并通过所述夹头夹持一显微镜；
6.将一待测量结构放置于所述数控机床上；所述待测量结构包括第一侧边和第二侧边；
7.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标；
8.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第二侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第二坐标；
9.根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离。
10.优选地，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标的步骤包括：
11.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿竖直方向移动，直至所述显微镜与所述待测量结构之间的距离在预设安全距离内；
12.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿水平方向移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标。
13.优选地，所述将一待测量结构放置于所述数控机床上；所述待测量结构包括第一侧边和第二侧边的步骤包括：
14.在所述第一侧边标记多个第一待测点位，并在所述第二侧边标记多个第二待测点位，其中，多个所述第二待测点位与多个所述第一待测点位数量一致且一一对应设置；
15.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标的步骤包括：
16.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第一侧边的多个所述第一待测点位相切，并记录与各所述第一待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第一坐标；
17.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第二侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第二坐标的步骤包括：
18.所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第二侧边的多个所述第二待测点位相切，并记录与各所述第二待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第二坐标；
19.所述根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离的步骤包括：
20.分别根据各所述第一坐标和对应的所述第二坐标计算得出所述第一待测点位与对应的所述第二待测点位之间的测量距离，以获得多个所述测量距离；
21.计算多个所述测量距离的平均值；
22.将多个所述测量距离的平均值作为所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离。
23.优选地，所述第一侧边与所述第二侧边之间具有预设距离；
24.所述根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离的步骤之后，还包括：
25.将所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离与所述预设距离进行比对；
26.根据比对结果判定所述数控机床是否需要对所述待测量结构进行修正。
27.优选地，所述根据比对结果判定所述数控机床是否需要对所述待测量结构进行修正的步骤，包括：
28.若所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围外，则判定所述数控机床需要对所述待测量结构进行修正；
29.控制所述数控机床对所述待测量结构进行修正加工。
30.优选地，所述控制所述数控机床对所述待测量结构进行修正加工的步骤之后，还包括：
31.获取修正加工后所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离；
32.将修正加工后所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离与所述预设距离进行比对；
33.若修正加工后的所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围外，返回执行所述控制数控机床对待测量结构进行修正加工的步骤，直至所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围内。
34.优选地，所述数控机床包括刀柄以及可拆卸安装于刀柄上的刀头；
35.所述将一夹头与数控机床连接，并通过所述夹头夹持一显微镜的步骤之前，还包括：
36.将所述刀头从所述刀柄上拆下；
37.并将所述夹头的一端与所述刀柄连接；
38.校准所述夹头，以使所述夹头远离所述刀柄一端的端面保持水平。
39.优选地，所述夹头的两端分别为固定端和夹持端，所述夹持端用于夹持所述显微镜；所述固定端与所述刀柄之间设置有转接块，所述转接块的两端分别为第一端和第二端，所述第一端与所述刀柄连接，所述第二端与所述夹头的形状相匹配且与所述夹头连接。
40.另外，本发明还提供一种数控机床，所述数控机床包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的数控机床量测的控制程序，所述数控机床量测的控制程序被所述处理器执行时实现如上所述的数控机床量测方法的步骤。
41.并且，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有数控机床量测的控制程序，所述数控机床量测的控制程序被处理器执行时实现如上所述的数控机床量测方法的步骤。
42.本发明技术方案中，将夹头与数控机床连接，并通过夹头夹持显微镜，以实现显微镜的安装和固定，显微镜方便观察并记录待测量结构。数控机床与夹头连接，数控机床带动夹头移动；夹头与显微镜连接，夹头带动显微镜移动，直至显微镜的基准与第一侧边相切时，记录显微镜的坐标为第一坐标。记录显微镜的第一坐标后，数控机床再次带动夹头移动，夹头带动显微镜移动，直至显微镜的基准与第二侧边相切时，记录显微镜的坐标为第二坐标。根据第一坐标和第二坐标的坐标值进行计算，可以得出第一侧边与第二侧边之间的距离。本发明的数控机床量测方法中，通过设置夹头夹持显微镜，数控机床带动显微镜移动进行测量，可以实现测量尺寸较小的台阶面的尺寸。并且，待测量结构经数控机床加工后，仍然放置在数控机床上不动，方便显微镜测量，若显微镜测量出的第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离偏差过大，则可以直接对待测量结构进行修正加工，省去将待测量结构从数控机床上卸下以及重新安装的步骤，能够提高修正加工的精度。
附图说明
43.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
44.图1为本发明数控机床量测方法第一实施例的流程示意图；
45.图2为本发明数控机床量测方法第二实施例的流程示意图；
46.图3为本发明数控机床量测方法第三实施例的流程示意图；
47.图4为本发明数控机床量测方法第四实施例的流程示意图；
48.图5为本发明数控机床量测方法第五实施例的流程示意图；
49.图6为本发明一实施例数控机床量测方法中夹头的结构示意图；
50.图7为本发明一实施例数控机床量测方法中转接块的结构示意图。
51.附图标号说明：
52.标号名称标号名称10夹头20转接块11固定端21第一端12夹持端22第二端
53.本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
54.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
55.需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
56.另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
57.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
58.另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
59.本发明中对“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等方位的描述以图1所示的方位为基准，仅用于解释在图1所示姿态下各部件之间的相对位置关系，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
60.本发明提供一种数控机床量测方法、数控机床及计算机可读存储介质。
61.参照图1，为本发明数控机床量测方法第一实施例的流程示意图，该方法包括以下步骤：
62.步骤s10，将一夹头与数控机床连接，并通过所述夹头夹持一显微镜；
63.待测量结构经数控机床加工后，将夹头10的一端与数控机床连接，从而实现夹头10的安装和固定。夹头10的另一端夹持一显微镜，显微镜通过夹持在夹头10在实现其安装和固定。显微镜方便观察并记录待测量结构。显微镜可与显示器连接，显示器显示待测量结构被显微镜观察到的区域，方便操作人员更加直观且方便的观察待测量结构。
64.步骤s20，将一待测量结构放置于所述数控机床上；所述待测量结构包括第一侧边和第二侧边；
65.待测量结构包括第一侧边和第二侧边，第一侧边和第二侧边相对设置。待测量结构经数控机床加工后，仍然放置在数控机床上不动，方便显微镜测量，若测量出的第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离偏差过大，则可以直接对待测量结构进行修正加工，省去将待测量结构从数控机床上卸下以及重新安装的步骤，并且，能够提高修正加工的精度。
66.步骤s30，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准
与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第一坐标；
67.数控机床与夹头10连接，数控机床带动夹头10移动，夹头10与显微镜连接，夹头10带动显微镜移动。直至显微镜的基准与第一侧边相切时，记录显微镜的坐标为第一坐标。显示器中显示的显微镜的基准包括相互垂直的x向基准线和y向基准线，当第一侧边与第二侧边沿x向间隔设置时，显微镜的x向基准线与第一侧边相切时，记录显微镜的x向和y向的坐标为第一坐标。当第一侧边与第二侧边沿y向间隔设置时，显微镜的y向基准线与第一侧边相切时，记录显微镜的x向和y向的坐标为第一坐标。
68.步骤s40，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜移动，直至所述显微镜的基准与所述第二侧边相切时记录所述显微镜的坐标为第二坐标；
69.记录显微镜的第一坐标后，数控机床再次带动夹头10移动，夹头10带动显微镜移动，直至显微镜的基准与第二侧边相切时，记录显微镜的坐标为第二坐标。当第一侧边与第二侧边沿x向间隔设置时，显微镜的x向基准线与第二侧边相切时，记录显微镜的x向和y向的坐标为第二坐标。当第一侧边与第二侧边沿y向间隔设置时，显微镜的y向基准线与第二侧边相切时，记录显微镜的x向和y向的坐标为第二坐标。
70.步骤s50，根据所述第一坐标和所述第二坐标计算得出所述第一侧边与所述第二侧边之间的实际距离。
71.根据第一坐标和第二坐标的坐标值进行计算，可以得出第一侧边与第二侧边在x向或y向之间的距离。
72.本发明通过将夹头10与数控机床连接，并通过夹头10夹持显微镜，以实现显微镜的安装和固定，显微镜方便观察并记录待测量结构。数控机床与夹头10连接，数控机床带动夹头10移动；夹头10与显微镜连接，夹头10带动显微镜移动，直至显微镜的基准与第一侧边相切时，记录显微镜的坐标为第一坐标。记录显微镜的第一坐标后，数控机床再次带动夹头10移动，夹头10带动显微镜移动，直至显微镜的基准与第二侧边相切时，记录显微镜的坐标为第二坐标。根据第一坐标和第二坐标的坐标值进行计算，可以得出第一侧边与第二侧边之间的距离。本发明的数控机床量测方法中，通过设置夹头10夹持显微镜，数控机床带动显微镜移动进行测量，可以实现测量尺寸较小的台阶面的尺寸。并且，待测量结构经数控机床加工后，仍然放置在数控机床上不动，方便显微镜测量，若显微镜测量出的第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离偏差过大，则可以直接对待测量结构进行修正加工，省去将待测量结构从数控机床上卸下以及重新安装的步骤，能够提高修正加工的精度。
73.参照图2，为本发明数控机床量测方法第二实施例的流程示意图，基于上述第一实施例，步骤s30包括：
74.步骤s31，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿竖直方向移动，直至所述显微镜与所述待测量结构之间的距离在预设安全距离内；
75.数控机床带动夹头10及显微镜沿竖直方向移动，使得显微镜的镜头靠近待测量结构，方便观察待测量结构。直至显微镜与待测量结构之间的距离在预设安全距离内。具体地，预设安全距离为5mm至15mm，若显微镜与待测量结构之间的距离小于5mm，容易刮花显微镜的镜头；若显微镜与待测量结构之间的距离大于15mm，则显微镜不容易聚焦，显微镜显示的画面不清楚。
76.步骤s32，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜沿水平方向移动，直至所述显
微镜的基准与所述第一侧边相切时记录所述显微镜的坐标为所述第一坐标。
77.当显微镜移动至与待测量结构之间的距离在预设安全距离内后，显微镜自动聚焦。数控机床带动夹头10及显微镜沿水平方向移动，直至显微镜的基准与第一侧边相切时，操作人员控制数控机床记录此时显微镜的坐标为第一坐标。
78.参照图3，为本发明数控机床量测方法第三实施例的流程示意图，基于上述第一实施例，步骤s20包括：
79.在所述第一侧边标记多个第一待测点位，并在所述第二侧边标记多个第二待测点位，其中，多个所述第二待测点位与多个所述第一待测点位数量一致且一一对应设置；
80.在第一侧边上标记多个第一待测点位，多个第一待测点位间隔设置；在第二侧边上标记多个第二待测点位，多个第二待测点位间隔设置，多个第二待测点位与多个第一待测点位数量一致且一一对应设置。
81.步骤s30包括：
82.步骤s33，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第一侧边的多个所述第一待测点位相切，并记录与各所述第一待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第一坐标；
83.步骤s40包括：
84.步骤s41，所述数控机床带动所述夹头及所述显微镜多次移动，使所述显微镜的基准分别与所述第二侧边的多个所述第二待测点位相切，并记录与各所述第二待测点位相切时所述显微镜的坐标为所述第二坐标；
85.步骤s50包括：
86.步骤s51，分别根据各所述第一坐标和对应的所述第二坐标计算得出所述第一待测点位与对应的所述第二待测点位之间的测量距离，以获得多个所述测量距离；
87.数控机床带动夹头10及显微镜移动，使得显微镜的基准与第一侧边的一第一待测点位相切，记录此时显微镜的坐标为一第一坐标；然后数控机床带动夹头10及显微镜移动，使得显微镜的基准与第二侧边中与该第一待测点位相对应的第二待测点位相切，记录此时显微镜的坐标为一第二坐标，根据该第一坐标和第二坐标计算得出第一侧边与第二侧边之间的一测量距离。
88.数控机床带动夹头10及显微镜移动，使得显微镜的基准与第一侧边的另一第一待测点位相切，记录此时显微镜的坐标为另一第一坐标；然后数控机床带动夹头10及显微镜移动，使得显微镜的基准与第二侧边中与该第一待测点位相对应的第二待测点位相切，记录此时显微镜的坐标为另一第二坐标，根据该第一坐标和第二坐标计算得出第一侧边与第二侧边之间的另一测量距离。
89.重复上述步骤，获得多个第一坐标以及相对应的第二坐标，根据各第一坐标和对应的第二坐标计算得出第一侧边与第二侧边之间的多个测量距离。
90.步骤s52，计算多个所述测量距离的平均值；
91.步骤s53，将多个所述测量距离的平均值作为所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离。
92.计算第一侧边与第二侧边之间的多个测量距离的平均值，将多个测量距离的平均值作为第一侧边与第二侧边之间的实际距离。通过获取多个测量距离，并将多个测量距离
的平均值作为第一侧边与第二侧边之间的实际距离，使得实际距离的数据更加精准，提高测量结果的可靠性，可以提高后续修正加工的精度。具体地，可以获取三个测量距离，将三个测量距离的平均值作为第一侧边与第二侧边之间的实际距离，保证测量结果可靠性的同时提高测量效率。
93.参照图4，为本发明数控机床量测方法第四实施例的流程示意图，基于上述第一实施例，所述第一侧边与所述第二侧边之间具有预设距离；
94.步骤s50之后，还包括：
95.步骤s60，将所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离与所述预设距离进行比对；
96.预设距离是设计待测量结构时设定的尺寸，将第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离进行比对，得出实际距离与预设距离之间的偏差。
97.步骤s70，根据比对结果判定所述数控机床是否需要对所述待测量结构进行修正。
98.根据第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离之间的比对结果，判定数控机床是否需要对待测量结构进行修正。当实际距离与预设距离之间的差值位于公差范围外时，则实际距离不合格，需要进行修正。当实际距离与预设距离之间的差值位于公差范围内时，则实际距离合格，不需要进行修正。
99.参照图5，为本发明数控机床量测方法第五实施例的流程示意图，基于上述第四实施例，步骤s70包括：
100.步骤s71，若所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围外，则判定所述数控机床需要对所述待测量结构进行修正；
101.步骤s72，控制所述数控机床对所述待测量结构进行修正加工。
102.当第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离之间的差值位于公差范围外时，则实际距离不合格，判定数控机床需要对待测量结构进行修正，此时，控制数控机床对待测量结构进行修正加工，以使第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离之间的差值位于公差范围内。
103.当第一侧边与第二侧边之间的实际距离与预设距离之间的差值位于公差范围内时，则实际距离合格，判定数控机床不需要对待测量结构进行修正。
104.步骤s72之后，还包括：
105.步骤s73，获取修正加工后所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离；
106.数控机床对待测量结构进行修正加工后，将夹头10再次与数控机床连接，并通过夹头10夹持一显微镜，数控机床带动夹头10及显微镜移动，直至显微镜的基准与修正加工后的第一侧边相切时记录显微镜的坐标为第一坐标；数控机床带动夹头10及显微镜移动，直至显微镜的基准与修正加工后的第二侧边相切时记录显微镜的坐标为第二坐标，根据第一坐标和第二坐标计算得出修正加工后第一侧边与第二侧边之间的实际距离。
107.步骤s74，将修正加工后所述第一侧边与所述第二侧边之间的所述实际距离与所述预设距离进行比对；
108.步骤s75，若修正加工后的所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围外，返回执行所述控制数控机床对待测量结构进行修正加工的步骤，直至所述实际距离与所述预设距离之间的差值位于公差范围内。
109.将第一侧边与第二侧边修正加工后的实际距离与预设距离进行比对，重复根据比对结果判定数控机床是否需要对待测量结构进行修正的步骤，即当修正加工后的实际距离与预设距离之间的差值仍然位于公差范围外时，则判定数控机床仍然需要对待测量结构进行修正，返回执行控制数控机床对待测量结构进行修正加工的步骤，直至实际距离与预设距离之间的差值位于公差范围内。
110.通过对修正加工后的待测量结构进行复测，并根据复测结果判定数控机床是否需要继续对待测量结构进行修正加工，直至实际距离与预设距离之间的差值位于公差范围内，保证待测量结构的尺寸能够符合公差要求，保证待测量结构的精度。
111.基于上述第一实施例，所述数控机床包括刀柄以及可拆卸安装于刀柄上的刀头；
112.数控机床通过刀头进行加工，刀头通过安装于刀柄上实现其固定。刀头可拆卸安装于刀柄上，方便刀头磨损后进行更换，同时，也方便更换不同型号的刀头，使得刀头的使用更加灵活且方便。
113.步骤s10之前，还包括：
114.步骤s01，将所述刀头从所述刀柄上拆下；
115.步骤s02，并将所述夹头的一端与所述刀柄连接；
116.步骤s03，校准所述夹头，以使所述夹头远离所述刀柄一端的端面保持水平。
117.刀头对待测量结构加工完成后，将刀头从刀柄上拆下，避免刀头划伤操作人员，并且，使得刀柄能够与夹头10连接。夹头10的一端与刀柄连接，从而实现夹头10的安装和固定。夹头10与刀柄连接，方便数控机床控制夹头10及显微镜移动，并且，也不需要另外对数控机床的结构进行改动，节省工序。对夹头10进行校准，使得夹头10远离刀柄的一端的端面保持水平，方便安装显微镜，并保证显微镜的量测精度。
118.参照图6至图7，基于上述第六实施例，所述夹头10的两端分别为固定端11和夹持端12，所述夹持端12用于夹持所述显微镜；所述固定端11与所述刀柄之间设置有转接块20，所述转接块20的两端分别为第一端21和第二端22，所述第一端21与所述刀柄连接，所述第二端22与所述夹头10的形状相匹配且与所述夹头10连接。
119.夹头10的一端为固定端11，夹头10的另一端为夹持端12，夹头10通过夹持端12实现夹持显微镜。转接块20位于固定端11与刀柄之间，转接块20的两端分别为第一端21和第二端22，第一端21与刀柄连接，刀柄大多为圆柱形，因此，第一端21也为圆柱形，方便转接块20与刀柄连接。第二端22与夹头10的形状相匹配，并且，第二端22与夹头10连接，本实施例中，夹头10为矩形块，第二端22也为矩形块，方便转接块20与夹头10连接。通过设置转接块20方便刀柄与夹头10连接，使得连接更加稳定且可靠。
120.具体地，夹头10为erowa夹头10，安装简单，夹紧工件装卸快捷，操作方便，具有较高的强度和耐磨性。转接块20与刀柄可通过磁吸或者紧固件可拆卸连接，转接块20与夹头10也可以通过磁吸或者紧固件可拆卸连接，方便将夹头10及显微镜取下，切换刀头进行修正加工，提高工作效率。
121.另外，本发明还提供一种数控机床，数控机床包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的数控机床量测的控制程序，数控机床量测的控制程序被处理器执行时实现如上所述的数控机床量测方法的步骤。该数控机床量测方法具体结构参照上述实施例，由于数控机床采用了上述实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术
方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
122.并且，本发明还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有数控机床量测的控制程序，数控机床量测的控制程序被处理器执行时实现如上所述的数控机床量测方法的步骤。
123.本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
124.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
125.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
126.以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。