一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法及装置与流程-j9九游会真人

1.本发明属于电子元器件测试技术领域，尤其涉及一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法及装置。


背景技术：

2.随着电子、通信等各种技术的日益进步，人们对存储器的容量和性能提出了更高的要求。由于同步动态随机存储器(简称sdram)具有存储容量大，操作速度快，以及价格低廉等优势而得到了广泛的使用。但是sdram存储器对时序的要求较高和有定时刷新的需要，因此，需对sdram进行各种相关的测试以确保sdram的完好性。
3.当前，sdram的测试多为单项测试，效率较低。sdram安装到电路板卡后一般是直接使用，很少进行性能测试。而受外围电子元器件的电气特性影响，安装到电路板卡的sdram性能与单片sdram时有着部分区别。在要求较高的应用中，有必要对安装到电路板卡的sdram进行相关测试。


技术实现要素：

4.为解决上述问题，本发明提供一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法，可实现动态随机存储器及安装到电路板卡的动态随机存储器的多参数自动化测试，且具有效率高、准确度高的优点。
5.一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法，为动态随机存储器提供所需的电源输入和外部控制信号，使动态随机存储器工作在正常状态；通过fpga/dsp控制器控制动态随机存储器的各地址、数据总线以及片选使能信号，实现动态随机存储器的寻址与数据读写功能；通过上位机切换测试项目，并在不同测试项目下向动态随机存储器输入不同的测试数据，然后对比动态随机存储器的读写数据与测试数据是否一致，同时测量与记录不同测试项目下动态随机存储器的读写周期、存储容量、工作电压、输出高电平电压或输出低电平电压，完成动态随机存储器工作状态的自动测试。
6.进一步地，对动态随机存储器进行读写功能测试时，通过fpga/dsp控制器设置动态随机存储器相应的数据位数，并向动态随机存储器的存储地址写入指定位数的数据，再将存储地址的数据直接读出，通过比对写入数据与读取数据是否一致判断动态随机存储器的读写功能是否正常，并将结果上传上位机。
7.进一步地，对动态随机存储器进行时序功能测试时，通过fpga/dsp控制器设置动态随机存储器的读取状态和写入状态，并向动态随机存储器的指定地址写入不同长度的数据，然后将指定地址的数据直接读出，同时记录不同长度的数据的读取时间，通过比对写入数据与读取数据是否一致、由读取时间推算的实际读取周期与理论读取周期是否一致判断动态随机存储器的时序功能是否正常，并将结果上传上位机。
8.进一步地，对动态随机存储器进行存储容量测试时，通过fpga/dsp控制器设置动态随机存储器相应的数据位数，并向动态随机存储器的最大存储地址写入指定数据，再将
最大存储地址的数据直接读出，通过比对写入数据与读取数据是否一致判断最大存储地址是否有效，并将结果上传上位机。
9.进一步地，对动态随机存储器进行编辑突发长度功能测试时，通过fpga/dsp控制器向动态随机存储器设置不同突发长度的命令，然后向指定起始地址发送包含不同突发长度的读指令，若上位机能够正确读取数据，上位机再按动态随机存储器数据手册的写周期时序向动态随机存储器的指定起始地址发写指令，然后读取该指定地址的数据并与写入的数据进行比较，根据写入数据与读取数据是否一致判断动态随机存储器的读、写周期时序是否正常，进而判断动态随机存储器的编辑突发长度功能是否正常。
10.进一步地，对动态随机存储器进行自动刷新功能测试时，通过fpga/dsp控制器向动态随机存储器的指定地址写入数据，设置动态随机存储器的引脚电平来启动其自动刷新功能，向所述指定地址发读指令，读取该地址的数据并与写入的数据进行比较，根据写入数据与读取数据是否一致判断动态随机存储器的自动刷新功能是否正常。
11.进一步地，对动态随机存储器进行工作频率测试时，fpga/dsp控制器向动态随机存储器的指定地址写入数据，并按照从小到大的顺序为动态随机存储器设置不同的工作频率；在不同的工作频率下，上位机读取指定地址的数据，同时记录数据的读取时间，通过比对写入数据与读取数据是否一致、由读取时间推算的实际读取周期与理论读取周期是否一致判断动态随机存储器在当前工作频率下是否能正常工作，若为是，则切换下一个工作频率重新进行测试，直到动态随机存储器在当前工作频率下不能正常工作，则当前工作频率即为动态随机存储器的最大工作频率，完成功率频率的测试。
12.进一步地，对动态随机存储器进行输出高电平电压v
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和输出低电平电压v
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测试时，动态随机存储器的数据总线低位引脚引出检测输出端与数字示波器连接，通过fpga/dsp控制器向动态随机存储器的指定地址写入数据0或1，当写入数据0时，通过数字示波器测量输出端电平v
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，判断v
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是否落入动态随机存储器数据手册的低电平逻辑电压范围，当写入数据1时，通过数字示波器测量输出端电平v
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，判断v
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是否落入动态随机存储器数据手册的高电平逻辑电压范围，完成输出高电平电压v
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和输出低电平电压v
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的测试。
13.进一步地，一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法的测试装置，包括测试母板、测试子板、可程控直流电源、数字示波器、数字万用表以及上位机；
14.其中，可程控直流电源、数字示波器、数字万用表由上位机统一控制；测试母板用于实现可程控直流电源、数字示波器、数字万用表、上位机和测试子板的接口功能；被测动态随机存储器、fpga/dsp控制器安装在测试子板上，不同类型的动态随机存储器可配套不同的测试子板，测试子板和测试母板之间具备统一、兼容的测试接口；上位机安装有用于控制动态随机存储器进行自动测试的测试软件。
15.有益效果：
16.1、本发明提供一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法，可以对同步动态随机存储器及由其组成的应用电路板卡的功能、性能及适用性进行自动测试，能够提高工作效率，提升动态随机存储器实际应用状态的参数测试准确度。
17.2、本发明提供一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法，采用向动态随机存储器写入数据再直接读取的方式，测试动态随机存储器的读写功能、时序功能以及存储容量等，可实现动态随机存储器及安装到电路板卡的动态随机存储器的多参数自动化测试。
18.3、本发明提供一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法，通过向动态随机存储器发送包含不同突发长度的读指令，以此测试动态随机存储器的编辑突发长度功能，可实现动态随机存储器及安装到电路板卡的动态随机存储器的多参数自动化测试。
19.4、本发明提供一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法，通过设置不同的工作频率进行试错，直到找到动态随机存储器的最大工作频率，同时还通过数字信号0和1对应的模拟电压测试动态随机存储器的输出高电平电压v
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和输出低电平电压v
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，可实现动态随机存储器及安装到电路板卡的动态随机存储器的多参数自动化测试。
20.5、本发明提供一种国产化同步动态随机存储器自动测试装置，主要是测试与验证相关国产化器件及电路板卡的性能指标，以便更好的替代进口器件，能够提高工作效率，提升动态随机存储器实际应用状态的参数测试准确度。
附图说明
21.图1为本发明的同步动态随机存储器自动测试装置组成示意图；
22.图2为本发明的同步动态随机存储器自动测试装置上位机软件组成示意图；
23.图3为本发明的同步动态随机存储器自动测试装置上位机软件操作流程示意图。
具体实施方式
24.为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
25.本发明提供一种国产化同步动态随机存储器自动测试方法，基本构思是：为动态随机存储器提供所需的电源输入和外部控制信号，使动态随机存储器工作在正常状态；通过fpga/dsp控制器控制动态随机存储器的各地址、数据总线以及片选使能信号，实现动态随机存储器的寻址与数据读写功能；通过上位机切换测试项目，并在不同测试项目下向动态随机存储器输入不同的测试数据，然后对比动态随机存储器的读写数据与测试数据是否一致，同时测量与记录不同测试项目下动态随机存储器的读写周期、存储容量、工作电压、输出高电平电压或输出低电平电压，完成动态随机存储器工作状态的自动测试。
26.其中，对动态随机存储器进行读写功能测试时，通过fpga/dsp控制器设置动态随机存储器相应的数据位数，并向动态随机存储器的存储地址写入指定位数的数据，再将存储地址的数据直接读出，通过比对写入数据与读取数据是否一致判断动态随机存储器的读写功能是否正常，并将结果上传上位机。
27.对动态随机存储器进行时序功能测试时，通过fpga/dsp控制器设置动态随机存储器的读取状态和写入状态，并向动态随机存储器的指定地址写入不同长度的数据，然后将指定地址的数据直接读出，同时记录不同长度的数据的读取时间，通过比对写入数据与读取数据是否一致、由读取时间推算的实际读取周期与理论读取周期是否一致判断动态随机存储器的时序功能是否正常，并将结果上传上位机。
28.对动态随机存储器进行存储容量测试时，通过fpga/dsp控制器设置动态随机存储器相应的数据位数，并向动态随机存储器的最大存储地址写入指定数据，再将最大存储地址的数据直接读出，通过比对写入数据与读取数据是否一致判断最大存储地址是否有效，并将结果上传上位机。
29.对动态随机存储器进行编辑突发长度功能测试时，通过fpga/dsp控制器向动态随机存储器设置不同突发长度(如1、2、4、8)的命令，然后向指定起始地址发送包含不同突发长度的读指令，若上位机能够正确读取数据，上位机再按动态随机存储器数据手册的写周期时序向动态随机存储器的指定起始地址发写指令，然后读取该指定地址的数据并与写入的数据进行比较，根据写入数据与读取数据是否一致判断动态随机存储器的读、写周期时序是否正常，进而判断动态随机存储器的编辑突发长度功能是否正常。
30.对动态随机存储器进行自动刷新功能测试时，通过fpga/dsp控制器向动态随机存储器的指定地址写入数据，设置动态随机存储器的引脚电平来启动其自动刷新功能，向所述指定地址发读指令，读取该地址的数据并与写入的数据进行比较，根据写入数据与读取数据是否一致判断动态随机存储器的自动刷新功能是否正常。
31.对动态随机存储器进行工作频率测试时，fpga/dsp控制器向动态随机存储器的指定地址写入数据，并按照从小到大的顺序为动态随机存储器设置不同的工作频率；在不同的工作频率下，上位机读取指定地址的数据，同时记录数据的读取时间，通过比对写入数据与读取数据是否一致、由读取时间推算的实际读取周期与理论读取周期是否一致判断动态随机存储器在当前工作频率下是否能正常工作，若为是，则切换下一个工作频率重新进行测试，直到动态随机存储器在当前工作频率下不能正常工作，则当前工作频率即为动态随机存储器的最大工作频率，完成功率频率的测试。
32.对动态随机存储器进行输出高电平电压v
oh
和输出低电平电压v
ol
测试时，动态随机存储器的数据总线低位引脚引出检测输出端与数字示波器连接，通过fpga/dsp控制器向动态随机存储器的指定地址写入数据0或1，当写入数据0时，通过数字示波器测量输出端电平v
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，判断v
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是否落入动态随机存储器数据手册的低电平逻辑电压范围，当写入数据1时，通过数字示波器测量输出端电平v
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，判断v
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是否落入动态随机存储器数据手册的高电平逻辑电压范围，完成输出高电平电压v
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和输出低电平电压v
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的测试。
33.进一步地，本发明的同步动态随机存储器自动测试装置主要由测试母板、测试子板、可程控直流电源、数字示波器、数字万用表和上位机等六部分组成，如图1所示。
34.可程控直流电源、数字示波器、数字万用表等测试用仪器，由同步动态随机存储器自动测试装置上位机软件统一控制。测试母板主要实现测试用仪器、上位机和测试子板的接口等功能。被测sdram、fpga/dsp控制器等器件安装在测试子板上，不同类型sdram可配套不同的测试子板，测试子板和测试母板之间具备统一、兼容的测试接口。上位机安装有同步动态随机存储器自动测试装置上位机软件。
35.同步动态随机存储器自动测试装置上位机软件主要实现对采样信号的处理和分析，按照待测指标要求，开展数字化后信号的数学变换、逻辑运算，从而获得所需的指标数值，实现测试项目的量化，用于评估器件性能；同时，用于控制和设置硬件模块参数，实现仪表的流程化控制和系统化配置，实现验证测试工作的自动化。软件系统主要分为登录模块、主界面模块、调试模块、流程控制模块、数据库模块、账户管理模块、帮助模块、报表模块等如图2所示。
36.进一步地，本发明的上位机测试软件主要操作流程如图3所示，具体实施方式描述如下：
37.1、搭建测试环境：测试对象的准备工作，机箱和仪器的线缆的连接等。
38.2、设定硬件组态：测试前的硬件环境设定，在系统中选择测试所使用的硬件并设定相关参数。
39.3、报表编辑：可自行定义报表架构，如：同时呈现表格与示波器波型于报表内等。
40.4、测试项目(ti)与程序(tp)编辑
41.ti(test item)：使用者可以由软件内建的测试命令数据库选取及编排，组成测试项目。tp(test program)：由测试项目集合而成测试程序，可针对不同的使用情境(如实验室、生产线等)及被测对象类别作测试程序分类管理。
42.5、执行初始化测试：基于现有搭建平台，进行首次测试验证，如果验证不通过，需检查测试装置的搭建是否正确。
43.6、执行测试：按照设定条件进行各项的测试。
44.7、判断结果：如果测试结果不合格需要排查测试系统，故障排查之后重新测试。
45.8、报告输出：支持*.xls、*.doc、*.txt等多种文档格式。
46.综上所述，本发明提供了一种同步动态随机存储器自动测试方法及其测试装置，可实现sdram及安装到电路板卡的sdram的多参数自动化测试，提高工作效率，提升实际应用状态的参数测试准确度。
47.当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当然可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。