1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试治具。
背景技术：
2.芯片是一种将电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，芯片在加工完成后需要对其进行测试。
3.例如授权公告号“cn214845639u”名为一种芯片测试治具，虽然能够使待测芯片在同一条件下进行检测，从而提高芯片测试的一致性，但现有的芯片测试治具在使用过程中依然存在，手动将芯片放在测试治具上，然后测试治具对芯片进行固定，通过测试电路板对顶部的芯片进行检测，芯片检测完成后，嵌套在测试治具中，需要手动将芯片从测试治具中取出，由于芯片没有可以抓握的位置，导致芯片的取出过程较为缓慢，从而降低了芯片的测试效率。
技术实现要素：
4.本实用新型的目的是为了解决，芯片没有可以抓握的位置，导致芯片的取出过程较为缓慢，从而降低了芯片的测试效率，而提出的一种芯片测试治具。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
6.设计一种芯片测试治具，包括壳体，所述壳体的内壁设有抓取机构，所述壳体的外壁固接有电机，所述壳体的外壁相邻有弯板，所述弯板的底部固接有测试治具主体，所述测试治具主体的内壁加工有滑槽，所述滑槽的内壁滑动卡接有滑块，所述滑块的顶部固接有滑板。
7.优选的，所述抓取机构包括锥齿轮组、吸气管、吸盘、转盘、吸气泵和电动伸缩杆；
8.所述锥齿轮组的外壁与壳体的内壁转动相连，所述锥齿轮组的内壁固接有吸气管，所述吸气管的外壁与壳体的内壁转动相连，所述吸气管的底部连通有吸盘，所述吸气管的外壁固接有转盘，所述转盘的顶部固接有吸气泵，所述吸气管的一端与吸气泵的一端相连通，所述吸气泵的顶部与电动伸缩杆的底部相邻，所述电动伸缩杆的一端与壳体的顶部相固接。
9.优选的，所述电动伸缩杆的外壁与弯板的内壁相套接，所述锥齿轮组的一侧与电机的输出端相固接。
10.优选的，所述滑板的顶部固接有测试电路板，所述滑板的内壁螺纹相接有双头螺柱。
11.优选的，所述双头螺柱的外壁与测试治具主体的内壁转动相连。
12.本实用新型提出的一种芯片测试治具，有益效果在于：通过接通吸气泵的外接电源，吸气泵工作时将兮吸气管内部的空气吸出，吸盘将芯片吸附在底部，接通电动伸缩杆的外接电源，电动伸缩杆带动壳体相下移动，壳体带动底部的芯片与测试电路板贴合，测试电路板对芯片进行测试，测试完成后电动伸缩杆复位，关闭吸气泵的外接电源，方便将芯片取
下，芯片的测试和取下过程较为简便，从而提升了芯片的测试效率。
附图说明
13.图1为本实用新型结构示意图；
14.图2为图1中吸气管、吸盘和转盘的连接结构示意图；
15.图3为图1中a部分的放大结构示意图；
16.图4为图1中滑槽、滑块和滑板的连接结构示意图。
17.图中：1、壳体，2、抓取机构，201、锥齿轮组，202、吸气管，203、吸盘，204、转盘，205、吸气泵，206、电动伸缩杆，2a1、套板，2a2、螺栓，3、电机，4、弯板，5、测试治具主体，6、滑槽，7、滑块，8、滑板，9、测试电路板，10、双头螺柱。
具体实施方式
18.下面结合附图对本实用新型作进一步说明：
19.实施例1：
20.参照附图1-4：本实施例1中，一种芯片测试治具，包括壳体1，壳体1的内壁设有抓取机构2，抓取机构2对芯片进行抓取，壳体1的外壁固接有电机3，电机3的型号根据实际需求选择，满足使用需求即可，壳体1的外壁相邻有弯板4，弯板4的底部固接有测试治具主体5，测试治具主体5对弯板4进行支撑，测试治具主体5的内壁加工有滑槽6，滑槽6的内壁滑动卡接有滑块7，滑槽6对滑块7限位，滑块7的顶部固接有滑板8，滑块7对滑板8限位。
21.抓取机构2包括锥齿轮组201、吸气管202、吸盘203、转盘204、吸气泵205和电动伸缩杆206，锥齿轮组201的外壁与壳体1的内壁转动相连，壳体1对锥齿轮组201限位，锥齿轮组201的内壁固接有吸气管202，锥齿轮组201带动吸气管202转动，吸气管202的外壁与壳体1的内壁转动相连，壳体1对吸气管202限位，吸气管202的底部连通有吸盘203，吸气管202带动吸盘203转动，吸气管202的外壁固接有转盘204，吸气管202带动转盘204转动，转盘204的顶部固接有吸气泵205，转盘204带动吸气泵205转动，吸气泵205的型号根据实际需求选择，满足使用需求即可，吸气管202的一端与吸气泵205的一端相连通，吸气泵205将吸气管202内部的空气抽出，吸气泵205的顶部与电动伸缩杆206的底部相邻，电动伸缩杆206的型号根据实际需求选择，满足使用需求即可，电动伸缩杆206的一端与壳体1的顶部相固接，电动伸缩杆206带动壳体1移动，电动伸缩杆206的外壁与弯板4的内壁相套接，弯板4对电动伸缩杆206限位，锥齿轮组201的一侧与电机3的输出端相固接，电机3带动锥齿轮组201转动；
22.接通吸气泵205的外接电源，吸气泵205工作时将兮吸气管202内部的空气吸出，吸盘203将芯片吸附在底部，接通电动伸缩杆206的外接电源，电动伸缩杆206带动壳体1相下移动，壳体1带动底部的芯片与测试电路板9贴合，测试电路板9对芯片进行测试，测试完成后电动伸缩杆206复位，关闭吸气泵205的外接电源，方便将芯片取下，芯片的测试和取下过程较为简便，从而提升了芯片的测试效率。
23.滑板8的顶部固接有测试电路板9，滑板8带动测试电路板9移动，测试电路板9为现有技术不做过多阐述，滑板8的内壁螺纹相接有双头螺柱10，双头螺柱10带动滑板8移动，双头螺柱10的外壁与测试治具主体5的内壁转动相连，测试治具主体5对双头螺柱10限位。
24.工作原理：
25.将芯片放在吸盘203的底部，接通吸气泵205的外接电源，吸气泵205工作时将兮吸气管202内部的空气吸出，吸盘203将芯片吸附在底部，接通电动伸缩杆206的外接电源，电动伸缩杆206带动壳体1相下移动，壳体1带动底部的芯片与测试电路板9贴合，测试电路板9对芯片进行测试，测试完成后电动伸缩杆206复位，关闭吸气泵205的外接电源，方便将芯片取下，芯片的测试和取下过程较为简便，从而提升了芯片的测试效率，接通电机3的外接电源，电机3带动锥齿轮组201转动，锥齿轮组201带动吸气管202底部的吸盘203转动，吸盘203带动底部芯片转动，对芯片的前后个位置的触点进行检测，带动双头螺柱10转动，双头螺柱10带动滑板8移动，滑板8带动顶部的测试电路板9移动，测试电路板9调节后方便对不同大小的芯片进行测试。
26.实施例2：
27.参照附图3：本实施例2中，一种芯片测试治具，抓取机构2还可以包括套板2a1和螺栓2a2，套板2a1的内壁与电动伸缩杆206的外壁相固接，套板2a1对电动伸缩杆206固定，套板2a1的底部与弯板4的顶部相贴合，弯板4对套板2a1限位，套板2a1的内壁与螺栓2a2的外壁螺纹相接，螺栓2a2的外壁与弯板4的顶部螺纹相接，螺栓2a2配合套板2a1将电动伸缩杆206固定在弯板4的顶部；
28.带动螺栓2a2转动，螺栓2a2配合套板2a1将电动伸缩杆206固定在弯板4的顶部。
29.工作原理：
30.带动螺栓2a2转动，螺栓2a2配合套板2a1将电动伸缩杆206固定在弯板4的顶部。
31.虽然本实用新型已通过参考优选的实施例进行了图示和描述，但是，本专业普通技术人员应当了解，在权利要求书的范围内，可作形式和细节上的各种各样变化。