1.本实用新型涉及屏蔽测试座技术领域，尤其涉及一种局部屏蔽测试座。
背景技术：
2.目前测试芯片及内存的测试座探针大分部是直接安装在上固定板和下固定板之间，由于探针和相邻探针之间缺少信号屏蔽结构，当进行高频或多组信号同测时会造成探针之间出现信号串扰，从而影响产品的测试性能。
技术实现要素：
3.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的由于探针和相邻探针之间缺少信号屏蔽结构，当进行高频或多组信号同测时会造成探针之间出现信号串扰，从而影响产品的测试性能的缺点，而提出的一种局部屏蔽测试座。
4.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
5.一种局部屏蔽测试座，包括上固定板和下固定板，所述上固定板为两侧设置有台阶的矩形，上固定板和下固定板表面均开设有贯穿的通孔，且通孔一一对应，上固定板通孔内插入有环形上固定板铜镶件，所述上固定板铜镶件内部插入有上固定板特氟龙镶件，下固定板通孔内插入有环形下固定板铜镶件，所述下固定板铜镶件内部插入有下固定板特氟龙镶件，所述上固定板特氟龙镶件与下固定板特氟龙镶件直径一致，上固定板特氟龙镶件与下固定板特氟龙镶件内部安装有探针，铜镶件和特氟龙镶件具有信号屏蔽功能，在芯片及内存测试过程中能够有效的屏蔽探针之间的信号干扰，提高高频测试性能，避免产生负面影响，降低测试成本。
6.进一步的，所述上固定板的底部两侧设置有圆柱形定位销。
7.进一步的，所述下固定板上表面开设有两个定位孔，所述定位销插入定位孔内，所述上固定板和下固定板完成固定。
8.进一步的，所述下固定板铜镶件由上下两个环形件组成，且底部的环形件直径小于顶部的环形件。
9.进一步的，所述下固定板铜镶件由两个环形件一体形成。
10.本实用新型的有益效果是：通过本方案提出的在探针表面套接上固定板铜镶件、上固定板特氟龙镶件、下固定板铜镶件和下固定板特氟龙镶件从而屏蔽探针之间信号干扰，提高高频测试性能，避免产生负面影响，影响测试结果。
附图说明
11.图1为本实用新型提出的一种局部屏蔽测试座的爆炸结构示意图；
12.图2为本实用新型提出的一种局部屏蔽测试座的装配结构示意图；
13.图中：1、探针；2、上固定板；3、上固定板铜镶件；4、上固定板特氟龙镶件；5、下固定板；6、下固定板特氟龙镶件；7、下固定板铜镶件；8、定位销；9、定位孔。
具体实施方式
14.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
15.本实施例中，参照图1-2，一种局部屏蔽测试座，包括上固定板2和下固定板5，所述上固定板2为两侧设置有台阶的矩形，上固定板2和下固定板5表面均开设有贯穿的通孔，且通孔一一对应，上固定板2通孔内插入有环形上固定板铜镶件3，所述上固定板铜镶件3内部插入有上固定板特氟龙镶件4，下固定板5通孔内插入有环形下固定板铜镶件7，所述下固定板铜镶件7内部插入有下固定板特氟龙镶件6，所述上固定板特氟龙镶件4与下固定板特氟龙镶件6直径一致，上固定板特氟龙镶件4与下固定板特氟龙镶件6内部安装有探针1，铜镶件和特氟龙镶件具有信号屏蔽功能，在芯片及内存测试过程中能够有效的屏蔽探针1之间的信号干扰，提高高频测试性能，避免产生负面影响，降低测试成本。
16.作为本实用的一个优选方案，所述上固定板2的底部两侧设置有圆柱形定位销8。
17.作为本实用的一个优选方案，所述下固定板5上表面开设有两个定位孔9，所述定位销8插入定位孔9内，所述上固定板2和下固定板5完成固定。
18.作为本实用的一个优选方案，所述下固定板铜镶件7由上下两个环形件组成，且底部的环形件直径小于顶部的环形件。
19.作为本实用的一个优选方案，所述下固定板铜镶件7由两个环形件一体形成。
20.工作原理：通过在探针1表面套接上固定板铜镶件3、上固定板特氟龙镶件4、下固定板铜镶件7和下固定板特氟龙镶件6从而屏蔽探针1之间信号干扰，提高高频测试性能，避免产生负面影响，影响测试结果。在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖“、“直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
21.在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
22.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
技术特征：
1.一种局部屏蔽测试座，其特征在于，包括上固定板(2)和下固定板(5)，所述上固定板(2)为两侧设置有台阶的矩形，上固定板(2)和下固定板(5)表面均开设有贯穿的通孔，且通孔一一对应，上固定板(2)通孔内插入有环形上固定板铜镶件(3)，所述上固定板铜镶件(3)内部插入有上固定板特氟龙镶件(4)，下固定板(5)通孔内插入有环形下固定板铜镶件(7)，所述下固定板铜镶件(7)内部插入有下固定板特氟龙镶件(6)，所述上固定板特氟龙镶件(4)与下固定板特氟龙镶件(6)直径一致，上固定板特氟龙镶件(4)与下固定板特氟龙镶件(6)内部安装有探针(1)。2.根据权利要求1所述的一种局部屏蔽测试座，其特征在于，所述上固定板(2)的底部两侧设置有圆柱形定位销(8)。3.根据权利要求2所述的一种局部屏蔽测试座，其特征在于，所述下固定板(5)上表面开设有两个定位孔(9)，所述定位销(8)插入定位孔(9)内，所述上固定板(2)和下固定板(5)完成固定。4.根据权利要求1所述的一种局部屏蔽测试座，其特征在于，所述下固定板铜镶件(7)由上下两个环形件组成，且底部的环形件直径小于顶部的环形件。5.根据权利要求4所述的一种局部屏蔽测试座，其特征在于，所述下固定板铜镶件(7)由两个环形件一体形成。
技术总结
本实用新型涉及屏蔽测试座技术领域,尤其涉及一种局部屏蔽测试座,包括上固定板和下固定板，所述上固定板为两侧设置有台阶的矩形，上固定板和下固定板表面均开设有贯穿的通孔，且通孔一一对应，上固定板通孔内插入有环形上固定板铜镶件，所述上固定板铜镶件内部插入有上固定板特氟龙镶件，下固定板通孔内插入有环形下固定板铜镶件，所述下固定板铜镶件内部插入有下固定板特氟龙镶件，所述上固定板特氟龙镶件与下固定板特氟龙镶件直径一致，本实用新型通过在探针表面套接上固定板铜镶件、上固定板特氟龙镶件、下固定板铜镶件和下固定板特氟龙镶件从而屏蔽探针之间信号干扰，提高高频测试性能，避免产生负面影响，影响测试结果。影响测试结果。影响测试结果。
技术研发人员：薛冰
受保护的技术使用者：安盈半导体技术（常州）有限公司
技术研发日：2023.03.09
技术公布日：2023/7/28