技术编号：35889912
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及一种电子显微镜、电子-光子相关性测定装置以及电子-光子相关性测定方法。背景技术.测定处于激发状态的物质和生物体等的荧光寿命的荧光寿命显微镜能够在微观上将物质和生物体等可视化，因此是用于阐明物质和生物体等的内部构造及功能的重要工具。但是，荧光寿命显微镜所照射的光存在衍射极限，因此无法得到对于阐明物质和生物体等的内部构造及功能而言特别重要的小于nm的信息。.另一方面，在向试样照射脉冲电子束并测定出射光的谱特性来判别试样的电子束激发(cathodoluminescence：cl...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。